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J-GLOBAL ID：200903029417476249

磁気ヘッド検査装置及び磁気ヘッド検査方法

Inventor： 阿部 真之
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001264357
Publication number (International publication number)：2003077109
Application date： Aug. 31, 2001
Publication date： Mar. 14, 2003
Summary：

【要約】【課題】 ティップバリエーションによる測定ばらつきを低減するとともに、歩留まりを向上させる。【解決手段】 磁気ヘッド11を検査するための磁気ヘッド検査装置10において、磁気ヘッド11には所定の搬送波周波数と変調周波数とで振幅変調された振幅変調電流が印加される。校正用磁界発生源14は、この磁気ヘッド11に対して一定の強度及び周波数の磁界を発生させ、磁気ヘッド11の測定ばらつきを校正する。磁気ヘッド測定装置12は、磁気ヘッド11に生じた高周波磁界を測定する。また、必要に応じて、交換用磁性体探針13を使用することにより磁気ヘッド測定装置12内の探針の交換が行われる。

Claim (excerpt)：

磁気ヘッドを検査するための磁気ヘッド検査装置であって、前記磁気ヘッドに対して一定の強度及び周波数の磁界を発生させる校正用磁界発生源と、前記校正用磁界発生源によって磁界が発生する前記磁気ヘッドに所定の搬送波周波数と変調周波数とで振幅変調された振幅変調電流を印加する電流印加手段と、前記電流印加手段からの振幅変調電流の印加によって前記磁気ヘッドに生じる高周波磁界を測定する磁気ヘッド測定装置とを具備することを特徴とする磁気ヘッド検査装置。