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J-GLOBAL ID：200903029473287890

検出器チャンネル利得較正係数を求める方法

Inventor： アーミン・ホースト・フォー ,  ノーバート・ジョセフ・ペルク ,  トーマス・ルイス・トス
Applicant, Patent owner： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
Agent (1)： 生沼 徳二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995072171
Publication number (International publication number)：1996038467
Application date： Mar. 30, 1995
Publication date： Feb. 13, 1996
Summary：

【要約】【目的】 第3世代CT装置で走査を行っている間に検出器配列(16)の各チャンネル(18)に対する利得較正係数(γ)を求める方法を提供する。【構成】 走査の間、2組の冗長なビューを収集するが、2番目のビューのX線強度値は、X線源(13)の焦点スポットを第1の位置(P1 )から第2の位置(P2 )に変位させることにより、隣接する検出器チャンネル(18)から生じさせる。互いに隣接する検出器チャンネル(18)で測定されたX線強度値の比(β)を求め、これを使って、各検出器チャンネルに対する利得較正係数(γ)を計算する。

Claim (excerpt)：

撮像対象の物体の周りを回転するX線源、及び該X線源が回転する時に一連のビューの各々において1組のX線強度値を発生する1組の検出器チャンネルで構成された検出器配列を持つCT装置で、検出器チャンネル利得較正係数を求める方法に於て、イ)前記X線源の第1の焦点スポット位置(P1 )から出て来るX線を用いて第1組のX線強度値を収集し、ロ)前記物体の次のビューを収集する位置に前記X線源を回転し、ハ)得られる第2組のX線強度値が前記第1組のX線強度値と重複する様に、前記X線源の回転平面内で変位された前記X線源の第2の焦点スポット位置(P2 )から出て来るX線を用いて該第2組のX線強度値を収集し、ニ)前記工程イ)及びハ)で収集されたX線強度値の比を求めることにより、隣接する検出器チャンネルの相対利得係数(β)を計算し、ホ)各々の検出器チャンネルについて、前記工程ニ)で計算された相対利得係数(β)を用いて、当該検出器チャンネルの利得を前記検出器配列内にある基準検出器チャンネルに関係づける利得較正係数(γ)を計算する工程を含むことを特徴とする、検出器チャンネル利得較正係数を求める方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭50-133878
  
• 特開平4-096738
  
• 特開昭50-133878
  
• 特開平4-096738