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J-GLOBAL ID：200903029477882432

元素分析装置

Inventor：
中根 昌代

About 中根 昌代

, 
中山 邦彦

About 中山 邦彦


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 三谷 惠 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999119326
Publication number (International publication number)：2000310596
Application date： Apr. 27, 1999
Publication date： Nov. 07, 2000
Summary：
【要約】【課題】 固体、液体、気体などの試料形態を問わず、また、複雑な前処理工程を必要とせず、多種類の元素をオンラインで、かつリアルタイムにて検出し、定量すること。【解決手段】 元素分析装置はレーザ光の波長、出力およびレーザ光の照射タイミングを最適に保つ制御信号を出力する制御装置1、与えられる指令に応じてレーザパルスを発振する複数個のパルスレーザ装置3a、3b、3c...3n、試料照射用レーザ光を合成する合成装置4、レーザ光を集光して試料に照射するレーザ集光レンズ5およびプラズマからの放射光を集光する蛍光集光レンズ7を有する分析セル6、測定対象元素の固有の波長を有する光を検出する蛍光測定装置8を備える。
Claim (excerpt)：
試料に照射するレーザ光の波長、出力およびレーザ光の照射タイミングを最適に保つ制御信号を出力する装置と、与えられる指令に応じてレーザパルスを発振する複数個のパルスレーザ装置と、与えられる試料照射用レーザ光を合成する合成装置と、レーザ光を集光して器内に導入した試料に照射するレーザ集光レンズおよびレーザ光の照射された試料で発生したプラズマからの放射光を集光する蛍光集光レンズを有する分析セルと、該蛍光集光レンズで集光される光のうち、測定対象元素の固有の波長を有する光を検出する蛍光測定装置とを備えてなる元素分析装置。
IPC (2)：
G01N 21/63 ,  G01N 21/71
FI (2)：
G01N 21/63 Z ,  G01N 21/71
F-Term (24)：
2G043AA01 ,  2G043CA01 ,  2G043CA02 ,  2G043CA07 ,  2G043DA01 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB09 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043JA03 ,  2G043JA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA04 ,  2G043NA06 ,  2G043NA11 ,  2G043NA13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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