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J-GLOBAL ID：200903029520453320

バッテリの状態検出装置

Inventor： 南 達郎 ,  坂本 俊之
Applicant, Patent owner： 本田技研工業株式会社
Agent (1)： 志賀 正武 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000219390
Publication number (International publication number)：2002042895
Application date： Jul. 19, 2000
Publication date： Feb. 08, 2002
Summary：

【要約】【課題】 ニッケル化合物を正極に用いたバッテリの使用可能容量の減少がメモリ効果又は劣化のいずれに起因するかを正しく判断する。【解決手段】 まず、内部抵抗安定領域における1セル当たりの内部抵抗が第一の所定抵抗値かを判定し(ステップS2)、「内部抵抗<第一の所定抵抗値(1.3mΩ/セル)」の場合は、使用可能残容量の比率(初期比)が所定比率(80%)以下であるかを判定する(ステップS3)。そして、「内部抵抗<第一の所定抵抗値」かつ「初期比<所定比率」の場合はメモリ効果の発生有りと判断し、リフレッシュ充電を行う(ステップS4)。他方、「第二の所定抵抗値(2.0mΩ/セル)≦内部抵抗」の場合は劣化の発生と判断し(ステップS15)、リフレッシュ充電を行わない。

Claim (excerpt)：

ニッケル化合物を正極に用いたバッテリにメモリ効果又は劣化のいずれが発生しているかを判断するバッテリの状態検出装置であって、充電から放電に至る過程においてバッテリから放電可能な残容量、あるいは放電から充電に至る過程においてバッテリに充電可能な残容量を、バッテリ使用可能残容量として検出する手段と、バッテリの内部抵抗を検出する内部抵抗検出手段と、バッテリの最大残容量である定格容量に対する、該検出されたバッテリ使用可能残容量の比率と、該検出されたバッテリ内部抵抗とに基づいて、バッテリにメモリ効果または劣化のいずれかが生じたことを検出するバッテリの状態検出装置。

IPC (4)：

H01M 10/42 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00

FI (4)：

H01M 10/42 P ,  G01R 31/36 A ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 Q

F-Term (22)：

2G016CA03 ,  2G016CB06 ,  2G016CB12 ,  2G016CB31 ,  2G016CC01 ,  2G016CC04 ,  2G016CC06 ,  2G016CC13 ,  2G016CC27 ,  2G016CC28 ,  2G016CE08 ,  5G003BA01 ,  5G003DA04 ,  5G003EA09 ,  5G003GC05 ,  5H030AS20 ,  5H030BB01 ,  5H030BB21 ,  5H030FF41 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF51