試料分析装置

Inventor： , , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：平木祐輔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005156950
Publication number (International publication number)：2006329920
Application date： May. 30, 2005
Publication date： Dec. 07, 2006
Summary：

【課題】複数の分析部を並置した試料分析装置において,隣の試料からの散乱光によるクロストークの影響を低減する。【解決手段】複数の光源13〜18それぞれを異なる変調周波数で変調し,周波数分離によって所望の信号成分のみを検出する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

それぞれ異なる波長の光を発生する複数の光源と,試料を保持する試料保持部と,前記試料保持部に保持された試料を透過した前記複数の光源からの光を検出する光検出器とを備える測定部が複数並置され, 一つの測定部に属する複数の光源及び少なくとも当該測定部に隣接する測定部に属する複数の光源は,それぞれ異なる変調周波数で変調された光を出射することを特徴とする試料分析装置。

IPC (5)：

G01N 21/27 , G01N 1/00 , G01N 35/02 , G01N 35/08 , G01N 35/10

FI (5)：

G01N21/27 Z , G01N1/00 101F , G01N35/02 A , G01N35/08 B , G01N35/06 A

F-Term (25)：

2G052AD46 , 2G052CA04 , 2G052CA07 , 2G052GA11 , 2G058CC05 , 2G058CC17 , 2G058DA07 , 2G058EA02 , 2G058EA14 , 2G058GA06 , 2G059AA01 , 2G059BB12 , 2G059EE01 , 2G059EE11 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG03 , 2G059GG06 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059HH06 , 2G059KK01 , 2G059KK03 , 2G059LL04 , 2G059MM09

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-257857 Applicant：株式会社日立製作所
多チャンネル変調分光計測方法及び多チャンネル変調分光計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-146695 Applicant：カナレ電気株式会社
特開昭60-216324号公報

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Cited by examiner (7)

液体濃度測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-366546 Applicant：JFEアドバンテック株式会社
吸光光度計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-203828 Applicant：株式会社トキメック, 大日本印刷株式会社
マルチキャピラリ電気泳動装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-238836 Applicant：大塚製薬株式会社

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