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J-GLOBAL ID:200903029527305393

AE波の計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 古澤 俊明 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994224124
Publication number (International publication number):1996062337
Application date: Aug. 25, 1994
Publication date: Mar. 08, 1996
Summary:
【要約】【目的】 AE波の間接検知法の特徴を活かしつつ、計測精度を高め、品質の一定した、さらに計測距離の長い場合にも使用できるAE計測ロッドを得ることを目的とする。【構成】 AE計測ロッド20は、管状のウェーブガイド22の内部に、軟化点が少なくとも90°C以上で、1分子中のモノマー率が高く、規則正しい分子構造を有し、かつ分子量が600〜3000の範囲にある石油樹脂、たとえば、芳香族系のモノマーをカチオン共重合させた樹脂をAE発生材としたものである。このAE計測ロッド20が被計測地盤15からの変位に応じて変形すると、多数の微小亀裂が発生する。これら微小亀裂の発生に伴う高脆性樹脂25の破壊音がウェーブガイド22を伝播してAEセンサ10へ送られ、電気信号に変換されて外部のプロセッサーへ出力する。AE発生材25は、品質が一定しているので、常に一定のAE波形を発生し、計測精度にすぐれている。
Claim (excerpt):
管状のウェーブガイド22の内部にAE発生材25を充填して検知ロッド21を構成し、この検知ロッド21の変形に起因する前記AE発生材25の破壊音をAEセンサ10で検出するようにしたAE計測ロッド20において、前記AE発生材25は、軟化点が少なくとも90°C以上で、1分子中のモノマー率が高く、規則正しい分子構造を有し、かつ分子量が600〜3000の範囲にある石油樹脂からなることを特徴とするAE波の計測装置。
IPC (5):
G01V 1/00 ,  E02D 1/00 ,  G01H 11/08 ,  G01N 29/14 ,  G01B 17/00
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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