Pat

J-GLOBAL ID：200903029527305393

AE波の計測装置

Inventor： 中島 巖 ,  高柳 則男
Applicant, Patent owner： 中島 巖 ,  日本工営株式会社
Agent (1)： 古澤 俊明 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994224124
Publication number (International publication number)：1996062337
Application date： Aug. 25, 1994
Publication date： Mar. 08, 1996
Summary：

【要約】【目的】 AE波の間接検知法の特徴を活かしつつ、計測精度を高め、品質の一定した、さらに計測距離の長い場合にも使用できるAE計測ロッドを得ることを目的とする。【構成】 AE計測ロッド20は、管状のウェーブガイド22の内部に、軟化点が少なくとも90°C以上で、1分子中のモノマー率が高く、規則正しい分子構造を有し、かつ分子量が600〜3000の範囲にある石油樹脂、たとえば、芳香族系のモノマーをカチオン共重合させた樹脂をAE発生材としたものである。このAE計測ロッド20が被計測地盤15からの変位に応じて変形すると、多数の微小亀裂が発生する。これら微小亀裂の発生に伴う高脆性樹脂25の破壊音がウェーブガイド22を伝播してAEセンサ10へ送られ、電気信号に変換されて外部のプロセッサーへ出力する。AE発生材25は、品質が一定しているので、常に一定のAE波形を発生し、計測精度にすぐれている。

Claim (excerpt)：

管状のウェーブガイド22の内部にAE発生材25を充填して検知ロッド21を構成し、この検知ロッド21の変形に起因する前記AE発生材25の破壊音をAEセンサ10で検出するようにしたAE計測ロッド20において、前記AE発生材25は、軟化点が少なくとも90°C以上で、1分子中のモノマー率が高く、規則正しい分子構造を有し、かつ分子量が600〜3000の範囲にある石油樹脂からなることを特徴とするAE波の計測装置。

IPC (5)：

G01V 1/00 ,  E02D 1/00 ,  G01H 11/08 ,  G01N 29/14 ,  G01B 17/00