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J-GLOBAL ID：200903029536289112
電磁界分布測定装置及び電磁波源解析システム及び電磁界解析システム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
菅野 中
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991206563
Publication number (International publication number)：1993026930
Application date： Jul. 23, 1991
Publication date： Feb. 05, 1993
Summary：
【要約】【目的】 不要電磁波放射抑制対策に寄与する波源分布を求める電磁波源解析システム、及び周囲の電磁環境に影響されることなく放射電磁界を求めるための電磁界解析システム、及び前記二つのシステムの構成上不可欠である電磁界分布を測定する測定装置を提供する。【構成】 電磁界分布測定装置1は、互いに180°向き合わせて配置され、二つの校正された電磁界測定プローブ3,3と、電磁界測定プローブ3を支持する電磁界プローブ支持部4と、電磁界測定プローブ3を上下するためのガイドとなるポール5と、電磁界測定プローブ3を電子機器本体を中心として180°回転させる回転テーブル6と、電子機器本体を載せる被測定物固定用テーブル7と、基底部8とで構成される。回転テーブル6は回転するが、被測定物固定用テーブル7は、高さの調整のみが可能であり、回転しない。
Claim (excerpt)：
電磁波源本体からの電磁放射に対し、電界及び磁界を測定する電磁界測定プローブと、前記本体を固定する機構と、前記プローブを前記本体周囲の空間において走査する機構とを有する電磁界分布測定装置。
Patent cited by the Patent：
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