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J-GLOBAL ID：200903029556166890

距離計測装置

Inventor： 長谷川 恭正
Applicant, Patent owner： 富士フイルムマイクロデバイス株式会社 ,  富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 高橋 敬四郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993221240
Publication number (International publication number)：1995071956
Application date： Sep. 06, 1993
Publication date： Mar. 17, 1995
Summary：

【要約】【目的】 位相差検出型の距離計測装置に関し、振動を生ずる場所に設置しても精度の高い測距値を得ることができる距離計測装置を提供することを目的とする。【構成】 基準対象物(1)と、測距対象物及び基準対象物の像を結像させる第1レンズ系(2B)と、測距対象物及び基準対象物の像を結像させる第2レンズ系(2R)と、第1レンズ系及び第2レンズ系により結像された像を電気信号に変換する光センサ(3)と、光センサ上に結像された基準対象物の像の位置を検出する基準位置検出手段と、基準位置検出手段により検出された基準対象物の像の位置から所定の初期基準位置とのずれ量を検出するずれ検出手段と、光センサ上に結像された測距対象物の像から三角測距方式により測距値を検出し、ずれ検出手段により検出されるずれ量に基づいて測距値に補正を行う手段とを有する。

Claim (excerpt)：

基準対象物(1)と、測距対象物及び前記基準対象物の像を結像させる第1レンズ系(2B)と、測距対象物及び前記基準対象物の像を結像させる第2レンズ系(2R)と、前記第1レンズ系及び前記第2レンズ系により結像された像を電気信号に変換する光センサ(3)と、前記光センサ上に結像された基準対象物の像の位置を検出する基準位置検出手段と、前記基準位置検出手段により検出された基準対象物の像の位置から所定の初期基準位置とのずれ量を検出するずれ検出手段と、前記光センサ上に結像された測距対象物の像から三角測距方式により測距値を検出し、前記ずれ検出手段により検出されるずれ量に基づいて測距値に補正を行う手段とを有する距離計測装置。

IPC (2)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00