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J-GLOBAL ID：200903029598377131

検眼装置

Inventor： 細井 良晋 ,  大森 豊
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995159794
Publication number (International publication number)：1996322791
Application date： May. 31, 1995
Publication date： Dec. 10, 1996
Summary：

【要約】【目的】 裸眼視力検査や前眼鏡視力検査が効率良く、また精度良く行う。【構成】 視標呈示装置により検査視標を呈示して被検眼の屈折力を検査する検眼装置において、被検眼の屈折力を他覚的に測定した他覚測定デ-タを入力する入力手段と、入力した他覚測定デ-タに基づいて予測される裸眼視力値を得る視力値予測手段と、該視力値予測手段により得られた予想視力値に基づいて定められた視力値を持つ視標を裸眼視力検査を開始するときに呈示する呈示手段と、を有する。

Claim (excerpt)：

視標呈示装置により検査視標を呈示して被検眼の屈折力を検査する検眼装置において、被検眼の屈折力を他覚的に測定した他覚測定デ-タを入力する入力手段と、入力した他覚測定デ-タに基づいて予測される裸眼視力値を得る視力値予測手段と、該視力値予測手段により得られた予想視力値に基づいて定められた視力値を持つ視標を裸眼視力検査を開始するときに呈示する呈示手段と、を有することを特徴とする検眼装置。

IPC (2)：

A61B 3/028 ,  A61B 3/10

FI (2)：

A61B 3/02 A ,  A61B 3/10 M

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭64-062117
  
• 特開昭61-284228