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J-GLOBAL ID：200903029682747874

超音波探傷装置

Inventor： 石山 亮 ,  柏瀬 裕 ,  加藤 衣子 ,  茂木 良平
Applicant, Patent owner： 株式会社トキメック
Agent (1)： 竹内 進 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994277408
Publication number (International publication number)：1995181172
Application date： Nov. 11, 1994
Publication date： Jul. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】 表面波による干渉の影響を除去して欠陥位置の測定や厚さ測定を高精度にできるようにする。【構成】 検査対象物の厚さまたは検査対象物中の空洞の位置などを測定する際に、一対の超音波探触子を使用する。測定時、一方の超音波探触子の位置に対して他方の超音波探触子の位置を相対的に変化させ、相対位置の変化の途中の複数の位置で複数の超音波受信信号の波形データを取得する。取得された各波形データは、対応する時刻毎に加算される。各波形データの表面波成分は、到達時間の相違による位相ずれを持ち、波形データの加算により相殺されてレベルが抑圧される。

Claim (excerpt)：

超音波探傷装置に於いて、検査対象物に対し超音波を送信又は受信する一対の超音波探触子と;前記一方の超音波探触子の位置に対して前記他方の超音波探触子の位置を相対的に変化させる駆動手段と;前記駆動手段による前記一対の超音波探触子の位置変化の途中の複数の位置の各々で、超音波受信信号の波形データを取得する受信データ取得手段と;前記受信データ取得手段で取得した各波形データを、対応する時刻毎に加算する加算手段と;を備えたことを特徴とする超音波探傷装置。

IPC (3)：

G01N 29/26 501 ,  G01N 29/22 501 ,  G01N 29/24 504