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J-GLOBAL ID：200903029700621450
情報取得方法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：
山下 穣平
, 志村 博
, 永井 道雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004340565
Publication number (International publication number)：2006153493
Application date： Nov. 25, 2004
Publication date： Jun. 15, 2006
Summary：
【課題】 対象物からの情報取得方法に関し、対象物の種類ごとに空間分解能の高い二次元分布像を得る情報取得方法を提供することである。【解決手段】 対象物を構成する構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得し、取得した質量情報に基づいて該構成物の分布状態に関する情報を得る情報取得方法であって、 該構成物のイオン化を促進するためにpHが6以下の水溶液を付与する工程と、 集束し、パルス化し、かつ走査可能なイオン、中性粒子、電子、並びに、集光し、パルス化し、かつ走査可能なレーザー光の中から選ばれる一つの一次ビームを用いて該構成物をイオン化し、該構成物を飛翔させる工程と、 該飛翔した構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得する工程と、 該質量を有する構成物の分布状態に関する情報を得る工程と、を備えることを特徴とする情報取得方法。【選択図】 なし
Claim (excerpt)：
対象物を構成する構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得し、取得した質量情報に基づいて該構成物の分布状態に関する情報を得る情報取得方法であって、
該構成物のイオン化を促進するためにpHが6以下の水溶液を付与する工程と、
集束し、パルス化し、かつ走査可能なイオン、中性粒子、電子、並びに、集光し、パルス化し、かつ走査可能なレーザー光の中から選ばれる一つの一次ビームを用いて該構成物をイオン化し、該構成物を飛翔させる工程と、
該飛翔した構成物の質量に関する情報を飛行時間型質量分析計を用いて取得する工程と、
該質量を有する構成物の分布状態に関する情報を得る工程と、
を備えることを特徴とする情報取得方法。
IPC (1)：
FI (3)：
G01N27/62 V
, G01N27/62 K
, G01N27/62 Y
Cited by applicant (1)
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電界解放型質量分析法
Gazette classification：公表公報
Application number：特願2000-518407
Applicant：ノースイースタン・ユニバーシティ
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent：
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