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J-GLOBAL ID：200903029716660269

光学的測定装置

Inventor： 菱刈 功 ,  北沢 元彦 ,  中沢 壮太郎 ,  斉藤 純
Applicant, Patent owner： 株式会社チノー
Agent (1)： 西村 教光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991319588
Publication number (International publication number)：1993126727
Application date： Nov. 08, 1991
Publication date： May. 21, 1993
Summary：

【要約】【目的】 省スペースで透過する光の波長の数を増やすことができること。また、単一の装置で複数種類の成分測定を行えること。【構成】 被測定物に照射された光は、回転円盤11に複数設けられた透過窓13を介して検出素子15に入射される。透過窓13には、2つの異なる波長を透過するダブルピークフィルタ14a、及び被測定物の水の吸収波長を透過する水分測定用透過フィルタ14bが設けられる。したがって、2つの透過窓13には、実質3個分の透過フィルタを設けることができ、回転円盤11上での省スペース化を図れる。

Claim (excerpt)：

回転自在な回転円盤(11)の複数の透過窓(13)部分に夫々設けられ、互いに異なる波長帯の光を透過自在な透過フィルタを介して被測定物の反射光、あるいは透過光を検出素子(5)で検出して被測定物の成分を測定する光学的測定装置において、前記透過フィルタは、所望する被測定物の測定成分の吸収波長を透過する測定用透過フィルタ(14b)と、該被測定物の吸収波長の前後における少なくとも2つ以上の波長のいずれも透過自在な基準用ダブルピークフィルタ(14a)とにより構成されることを特徴とする光学的測定装置。

IPC (3)：

G01N 21/27 ,  G01B 11/06 ,  G01N 21/35

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭57-061922
  
• 特開昭50-017276
  
• 特開昭50-033880
  
• 特開昭61-138143