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J-GLOBAL ID：200903029750514581

半導体集積回路の設計方法

Inventor： 大川 和伸
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000004106
Publication number (International publication number)：2001196457
Application date： Jan. 13, 2000
Publication date： Jul. 19, 2001
Summary：

【要約】【課題】 半導体集積回路の設計において、配線混雑による配線処理時の増長と配線品質の悪化とを防止する。【解決手段】 所望の機能を実現する論理回路接続情報302を用いて配線混雑抽出工程303を実施し、配線混雑部情報307を考慮して配線領域確保用のエリアボーナスセルを優先配置する(308)。同一セル列に集中したフリップフロップは、セル間スワップ工程1001で、上下のセル列のエリアボーナスセルと交換配置される。配線工程1002の実施後のリペアボーナスセル配置工程602で、配線混雑部外のエリアボーナスセルが回路修正用のリペアボーナスセルに置き換えられる。リペアボーナスセル予備結線工程802で、配線領域確保用の予備結線が追加される。配線領域確保用の予備結線は、マスク製作前に予備結線削除工程804で削除される。

Claim (excerpt)：

特定の論理機能を有する複数のスタンダードセルを配列するスタンダードセル方式の半導体集積回路を設計するための方法であって、スタンダードセル間の配線の混雑度に関する配線混雑情報を抽出する配線混雑抽出工程と、それ自体に配線層を持たず、配線が通過する領域を確保するエリアボーナスセルを、配置領域上の配線混雑が顕著な部位に優先配置して、再度配線混雑抽出工程を行い、配線混雑情報を更新する工程を、配置領域全体で配線混雑情報が指定値以下になるまでくりかえすエリアボーナスセルの優先配置工程と、を有する半導体集積回路の設計方法。

F-Term (19)：

5F064AA04 ,  5F064BB10 ,  5F064BB13 ,  5F064BB15 ,  5F064BB19 ,  5F064BB21 ,  5F064DD03 ,  5F064DD13 ,  5F064DD14 ,  5F064DD31 ,  5F064EE03 ,  5F064EE22 ,  5F064EE42 ,  5F064EE45 ,  5F064EE52 ,  5F064EE57 ,  5F064EE58 ,  5F064HH06 ,  5F064HH12