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J-GLOBAL ID：200903029825852348

被対象物を透過した電磁波の状態を検出するための検出装置

Inventor： 笠井 信太郎 ,  尾内 敏彦
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (2)： 西山 恵三 ,  内尾 裕一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004376370
Publication number (International publication number)：2006184078
Application date： Dec. 27, 2004
Publication date： Jul. 13, 2006
Summary：

【課題】 従来の検出装置では空間光学系を用いているため、システムの小型化が困難であり、また光学調整が困難であった。【解決手段】 そこで、本発明は、被対象物を透過した電磁波の状態を検出するための検出装置であって、電磁波を発生するための発生手段と、前記電磁波を伝送するための伝送路と、前記電磁波を検出するための検出手段とを備え、前記伝送路中で前記電磁波が分布する領域の一部に通路を有し、前記発生手段により発生した電磁波が、前記通路中の被測定対象物を透過し、前記検出手段により前記電磁波の状態を検出する検出装置を提供するものである。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被対象物を透過した電磁波の状態を検出するための検出装置であって、 電磁波を発生するための発生手段と、 前記電磁波を伝送するための伝送路と、 前記電磁波を検出するための検出手段とを備え、 前記伝送路中で前記電磁波が分布する領域の一部に通路を有し、 前記発生手段により発生した電磁波が、前記通路中の被測定対象物を透過し、前記検出手段により前記電磁波の状態を検出することを特徴とする検出装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 22/00

FI (3)：

G01N21/35 Z ,  G01N22/00 K ,  G01N22/00 X

F-Term (15)：

2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• マイクロチップ、マイクロチップの製造方法および成分検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-226681   Applicant：日本電気株式会社
• テラヘルツ波透過用光学部品、テラヘルツ波光学系、テラヘルツ帯波処理装置および同方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-107885   Applicant：有限会社パックス
• 管状バイオ検知システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-246644   Applicant：株式会社東芝

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• “Charge Transport and Carrier Dynamics in Liquids Probed by THz Time-Domain Spectroscopy”
• “Waveguide terahertz time-domain spectroscopy of nanometer water layers”
• “フォトニックフラクタルを用いたテラヘルツ電磁波制御の研究”