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J-GLOBAL ID:200903029832875728

X線診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 則近 憲佑
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994273221
Publication number (International publication number):1996139996
Application date: Nov. 08, 1994
Publication date: May. 31, 1996
Summary:
【要約】【目的】 従来法では成し得なかったコントラスト処理を行う。【構成】 X線を曝射するX線発生装置101と、撮影部位を透過した透過X線を検出しX線透過画像を撮像する撮像装置102と、この撮像装置102による検出に基づいてkV情報を求め、そのkV情報に応じてX線発生装置101及びCCU104の制御を行うX線制御装置103と、撮像装置102から出力される映像信号の諸特性を制御するCCU104と、このCCU104の出力を画像表示する表示システム105とを備えるものである。
Claim (excerpt):
被検体に向けてX線を曝射するX線源と、前記被検体を透過した透過X線を光学像に変換する光学像変換手段と、前記光学像の光量を検出する検出手段と、前記光学像を撮像し映像信号を出力する撮像手段と、前記検出手段により検出された検出光量に基づいて電圧情報を求める制御手段と、前記電圧情報に応じて前記X線源に電圧を供給する電圧発生手段と、前記電圧情報に応じて前記映像信号に所定のコントラスト処理を行うコントラスト処理手段と、このコントラスト処理手段の出力を表示する表示手段とを備えるX線診断装置。
IPC (2):
H04N 5/325 ,  H05G 1/64
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • X線透視撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-266068   Applicant:株式会社日立メディコ
  • デジタルX線撮影装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-270534   Applicant:株式会社島津製作所

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