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J-GLOBAL ID：200903029832975145

距離計測装置におけるスキャン位置検出装置およびスキャン位置制御装置

Inventor： 吉田 眞人 ,  板尾 大助 ,  田坂 吉朗 ,  石尾 渉
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (1)： 牛久 健司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992312669
Publication number (International publication number)：1994137867
Application date： Oct. 29, 1992
Publication date： May. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 高分解能でスキャン角度位置を検出する。【構成】 両面反射の回転ミラー14が所要角度範囲でモータ15により回転する。測距用レーザ・ダイオード11の測距用光は固定ミラー13で反射し,さらに回転ミラー14により反射して外部に出射する。対象物からの反射光は受光素子31によって受光される。測距用光発光からその反射光の受光までの時間に基づいて対象物までの距離が測定される。スキャン位置検出用レーザ・ダイオード21から出射する検出光は回転ミラー14で反射して位置検出素子(PSD)22に入射する。位置検出素子22からは入射位置を表わす位置信号が出力される。回転ミラー14によってスキャンされる測距用光のスキャン角度位置は位置検出素子22の位置信号によって表わされる。この位置信号を用いてモータ15のフィードバック制御が行なわれる。

Claim (excerpt)：

測距用の光を発生する測距用光源,スキャン位置検出用の光を発生する検出用光源,上記測距用光を反射させて外方に出射させるとともに,上記検出用光を反射させる回転ミラー,および上記回転ミラーの回転角度範囲において上記回転ミラーによって反射された上記検出用光が入射する位置に配置され,上記検出用光の入射位置を表わす位置信号を出力する位置検出素子,を備えた距離計測装置におけるスキャン位置検出装置。

IPC (3)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/26 ,  G01S 17/08