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J-GLOBAL ID：200903029880354500

分光計測装置

Inventor： 坂内 尚史 ,  伊藤 康展 ,  小林 まなみ
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 塩野入 章夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002338772
Publication number (International publication number)：2004170325
Application date： Nov. 22, 2002
Publication date： Jun. 17, 2004
Summary：

【課題】分光計測装置において、各波長間における測定信号強度のばらつきを低減し、良好な測定精度を得ること。【解決手段】測定対象10に照射する光を発光する光源部2と、測定対象から放出される光を検出する受光部4、光源部が照射する光又は受光部が受光する光を分光する分光部3と、測定波長に応じて、光源部、分光部、及び受光部の少なくとも何れか一つを制御し、受光部の測定信号強度に基づいて分光測定を行う制御部5とを備える構成とし、制御部は、光源部及び又は受光部を測定波長別に制御することによって受光部の測定信号強度を測定波長別に調整する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

測定対象に照射する光を発光する光源部と、 測定対象から放出される光を検出する受光部と、 前記光源部が照射する光又は受光部が受光する光を分光する分光部と、 前記光源部、分光部、及び受光部の少なくとも何れか一つを制御し、前記受光部の測定信号強度に基づいて分光測定を行う制御部とを備えた分光計測装置。

IPC (4)：

G01J3/02 ,  G01J3/10 ,  G01J3/46 ,  G01N21/27

FI (4)：

G01J3/02 Z ,  G01J3/10 ,  G01J3/46 Z ,  G01N21/27 Z

F-Term (28)：

2G020AA04 ,  2G020AA08 ,  2G020BA17 ,  2G020CB24 ,  2G020CB26 ,  2G020CB27 ,  2G020CB53 ,  2G020CD03 ,  2G020CD22 ,  2G020CD38 ,  2G020DA22 ,  2G020DA31 ,  2G020DA66 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059EE13 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ23 ,  2G059KK01 ,  2G059KK04 ,  2G059MM03 ,  2G059MM14