Pat
J-GLOBAL ID:200903029890762453

生体磁界の無雑音測定のためのシステムおよび方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 生沼 徳二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993041586
Publication number (International publication number):1993337094
Application date: Mar. 03, 1993
Publication date: Dec. 21, 1993
Summary:
【要約】【目的】 生体磁界を測定している領域の外側からの磁界による雑音を抑圧する。【構成】 磁界勾配を表す第一の信号を発生する少なくとも1個の一次センサ勾配計100を生体磁気源130の近くに配置し、干渉磁界およびその一次勾配を測定する基準系120を該勾配計の近くに配置し、勾配計および基準系からの信号を組み合わせて、雑音を除去した信号を発生する相殺手段150を設ける。
Claim (excerpt):
生体磁界の無雑音測定のための方法に於いて、磁界勾配を表す第一の信号を発生する少なくとも1個の一次センサ勾配計を生体磁気源の近くに配置するステップ、干渉磁界およびその一次の勾配を測定する基準系を上記勾配計の近くに配置するステップ、上記基準系に対する各平面x-y、x-z、y-zの磁気双極子として上記干渉磁界を表すステップ、上記基準系から上記勾配計コイルまでの位置ベクトルをベクトルrp 、上記基準系から上記磁気双極子までの位置ベクトルをベクトルrq として、次の磁気双極子の式【数1】を使って、上記勾配計のコイルでの上記磁気干渉による雑音の推定値を計算するステップ、上記基準系で測定された一次勾配【数2】を使って、上記推定値に対して線形補正を行うステップ、上記勾配計のコイルに於ける雑音磁束を計算して、上記勾配計に対する雑音磁束勾配を表す第二の信号を発生するステップ、および上記第一の信号と上記第二の信号の差を求めることにより、無雑音勾配計出力を表す信号を得るステップを含むことを特徴とする生体磁界の無雑音測定方法。

Return to Previous Page