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J-GLOBAL ID：200903029960331412
屈折率測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993350772
Publication number (International publication number)：1995198604
Application date： Dec. 29, 1993
Publication date： Aug. 01, 1995
Summary：
【要約】【目的】 小型で試料の微小な屈折率の変化を敏感に検出できる装置を得る。【構成】 二つのファブリペロー干渉器を光路方向に前後して並べ、一方のファブリペロー干渉器には試料を流通させ、他方のファブリペロー干渉器の透過光波長を上記一方のファブリペロー干渉器に標準試料を通したときの透過波長に合わせ、両干渉器を透過した光を測定する。【作用】 ファブリペロー干渉器は透過光の波長幅がせまいので、標準試料に対して二つのファブリペロー干渉器の透過光波長を合わせておくと、試料のわずかな変化で透過光強度が大幅に変る。
Claim (excerpt)：
二つのファブリペロー干渉器を光路方向に前後して並べ、その後方に両干渉器を透過した光を検出する測光手段を配置し、上記二つの干渉器の一方に試料を入れ、他方の干渉器の透過光波長を調節可能としたことを特徴とする屈折率測定装置。
Patent cited by the Patent：
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