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J-GLOBAL ID:200903029967863533

熱勾配スペクトロメーターの校正用装置と方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小田島 平吉
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2001519156
Publication number (International publication number):2003507732
Application date: Aug. 23, 2000
Publication date: Feb. 25, 2003
Summary:
【要約】熱勾配スペクトロメーター(100)校正用の校正標準部(10)。該校正標準部は、該スペクトロメーターが校正値(calibration)内にあるかどうかを決定するために熱勾配スペクトロメーターが読み出す特定のブドウ糖濃度を有する構造体である。該校正標準部の該構造体は人体組織の生理学を適切に模擬する。各々が異なるブドウ糖濃度を有する、多数のこの様な標準部は、該スペクトロメーターの校正で使用するために熱勾配スペクトロメーターと共にキットの形式で提供される。該スペクトロメーターはデイスプレー(130)と、自己校正の調節を行うための内部回路と、そして前記スペクトロメーターへ外部校正命令を供給するために遠隔のコンピユータ及びデータベースへの電気的接続用の通信ポートとを備えている。
Claim (excerpt):
熱勾配スペクトロメーターの校正で使用するための校正標準装置に於いて、前記装置が、 人体皮膚をシミュレートする構造体を備える層状ポリマー標準部を具備しており、前記構造体は平坦で、前記スペクトロメーターの校正ポート内に取り外し可能に位置付けられるための形状を有しており、前記構造体は該人体の角質層をシミュレートする第1層状構造部分と該人体の表皮をシミュレートする第2層状構造部分とを有しており、前記構造体はブドウ糖量で含浸されており、前記ブドウ糖量は糖尿病の人の血糖レベル値を表しており、前記値は前記スペクトロメーターを校正するために使用されることを特徴とする熱勾配スペクトロメーターの校正で使用するための校正標準装置。
IPC (2):
G01N 21/35 ,  A61B 5/145
FI (2):
G01N 21/35 Z ,  A61B 5/14 310
F-Term (15):
2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC12 ,  2G059DD20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE20 ,  2G059FF08 ,  2G059HH01 ,  2G059MM05 ,  2G059PP10 ,  4C038KK10 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KM03 ,  4C038KY03

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