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J-GLOBAL ID：200903029987470805
計量機器の遠隔校正システム、および、計量機器の遠隔校正方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003123782
Publication number (International publication number)：2004326671
Application date： Apr. 28, 2003
Publication date： Nov. 18, 2004
Summary：
【課題】精密計測を行うための基準量を遠隔供給することにより、被校正機関あるいは産業界の利用者の現場における遠隔校正、および、その認証を行う。【解決手段】計測標準量を通信に適したパラメータに変換し、あるいは通信に適したパラメータとして生成して遠隔地(2)に送り、あるいは通信に適しない場合は輸送に適した形態の計測標準量にして遠隔地(2)に送り、到着した地点において計測標準に復元することにより校正を可能ならしめ、その結果を認証する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
遠隔地にある計量機器を構成するシステムであって、
高精度の標準を有する標準機関側においては、
計測の基準となる物理標準を、通信媒体を介して伝送するための伝送可能信号に変換する変換手段を備え;
前記伝送可能信号を受信した当該遠隔地側においては、
前記伝送可能信号に基づいて計測標準に復元し、被校正機器を校正する校正手段を備え;
前記校正による不確かさ評価を伴なった精密測定の結果に応じて、前記高精度の標準を有する標準機関が認証することを特徴とする、計量機器の遠隔校正システム。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (16)：
2F073AA21
, 2F073AB01
, 2F073BB01
, 2F073BB07
, 2F073BC01
, 2F073BC02
, 2F073BC04
, 2F073CC01
, 2F073CC14
, 2F073CD04
, 2F073EE01
, 2F073GG01
, 2F076AA01
, 2F076BE10
, 2F076BE17
, 2F076BE18
