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J-GLOBAL ID：200903030016397174

雑音成分測定装置及び変調補正装置

Inventor：
小宮 浩

About 小宮 浩

, 
吉田 雅雄

About 吉田 雅雄


Applicant, Patent owner：
株式会社アドバンテスト

About 株式会社アドバンテスト


Agent (1)： 雨貝 正彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999195489
Publication number (International publication number)：2001044762
Application date： Jul. 09, 1999
Publication date： Feb. 16, 2001
Summary：
【要約】【課題】 直交変調器の出力に含まれる雑音成分を安価でかつ簡易に測定できるようにする。また、その測定した結果に基づいてその雑音成分を抑制する。【解決手段】 直交変調処理された伝送信号には、キャリアフィールドスルー成分の雑音と逆サイドバンド成分の雑音が存在する。測定したい雑音信号の周波数に対応した周波数の信号に基づいて伝送信号を周波数変換部117でダウンコンバートし、それを帯域通過フィルタ119を通過させて、検波回路121で雑音成分に対応した信号の実効値に変換する。雑音成分を低周波に変換してから観察しているので、簡易な回路で構成でき、その測定も容易になる。また、変調補正回路130は、雑音成分が減少するように位相・振幅調整部102,103による振幅や位相の調整量、並びにDCバイアス可変回路104、105が信号波に供給するバイアス電圧の値を制御している。
Claim (excerpt)：
所定の変調処理によって変調された伝送信号を入力する入力手段と、前記入力手段から入力される前記伝送信号に含まれる雑音信号に対応した所定の周波数の信号に基づいて、前記伝送信号をダウンコンバートする周波数変換手段と、前記周波数変換手段によってダウンコンバートされた信号の中から前記雑音信号に対応する帯域の信号のみを通過させるフィルタ手段と、前記フィルタ手段を通過した信号を検波する検波手段とを備えることを特徴とする雑音成分測定装置。
IPC (3)：
H03C 1/06 ,  H04L 27/00 ,  H04L 27/20
FI (3)：
H03C 1/06 ,  H04L 27/20 Z ,  H04L 27/00 A
F-Term (10)：
5J002BB06 ,  5J002BB11 ,  5J002BB17 ,  5J002BB29 ,  5J002BB32 ,  5J002DD05 ,  5J002EE01 ,  5K004AA05 ,  5K004FA26 ,  5K004FD04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • 送信機
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-225377   Applicant：埼玉日本電気株式会社
  • 送信装置における直交変調器の補償回路
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-133892   Applicant：富士通テン株式会社
  • 歪補償方式
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-239594   Applicant：富士通株式会社
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