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J-GLOBAL ID：200903030214526923

電子テスト装置

Inventor： 田窪 米治 ,  大谷 俊哉 ,  木村 睦 ,  古林 好則 ,  藤原 正三
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994286666
Publication number (International publication number)：1996146863
Application date： Nov. 21, 1994
Publication date： Jun. 07, 1996
Summary：

【要約】【目的】 余分な受験スペースも必要とせず、カンニングなどの不正行為を排除し、受験者は現在のマークシート形式と同じ感覚で受験できるようにし、その試験結果のデータ集計や採点はオンラインで処理することが可能な極めて効率的に試験を実施できるようにする。【構成】 液晶表示装置2上の画面の位置情報を、情報入力用のペン3によって画面表面を指示することによって電気的に検出する機能を有する少なくとも1つ以上の液晶表示装置2に、コンピュータ4が再生するパターン画像情報を出力し、かつ前記ペンによって指示された画面の位置情報をコンピュータに入力し、データ処理する。

Claim (excerpt)：

液晶表示装置に表示された画面の位置情報を、ペンによって前記画面表面を指示することによって前記画面の位置情報を電気的に検出する機能を有する少なくとも1つ以上の液晶表示装置に、コンピュータが再生するパターン画像情報を出力し、かつ前記ペンによって指示された前記画面の位置情報をコンピュータに入力し、該コンピュータでデータ処理するようにしたことを特徴とする電子テスト装置。

IPC (3)：

G09B 7/02 ,  G02F 1/133 530 ,  G06F 3/03 380