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J-GLOBAL ID：200903030253249082

蛍光寿命測定装置

Inventor： 横山 一成
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993214854
Publication number (International publication number)：1995049308
Application date： Aug. 05, 1993
Publication date： Feb. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】 従来より構成が簡単で安価な蛍光寿命測定装置を提供すること。【構成】 ストップ用光パルスを得るための光路4に光学遅延手段19を介装すると共に、スタート用光パルスとストップ用光パルスとを単一の電子増倍管21で検出するようにしている。

Claim (excerpt)：

励起用パルス光源から発せられる光をビームスプリッタで二分割し、一方の光路をスタート用光パルスを得るための光路とし、他方の光路をストップ用光パルスを得るための光路とし、前記スタート用光パルスに基づいて得られるスタート用電気パルスと前記ストップ用光パルスに基づいて得られるストップ用電気パルスを時間-電圧変換器にそれぞれ入力するようにした蛍光寿命測定装置において、前記ストップ用光パルスを得るための光路に光学遅延手段を介装すると共に、前記スタート用光パルスとストップ用光パルスとを単一の電子増倍管で検出するようにしたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。