Pat
J-GLOBAL ID：200903030257853022
光学的試料分析装置及び方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中村 稔 (外6名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1994519241
Publication number (International publication number)：1996504950
Application date： Feb. 24, 1994
Publication date： May. 28, 1996
Summary：
【要約】本発明は、試薬を含む試験用サブストレートの表面上に沈積された分析物を自動的に探知して分析する方法及び装置に関する。試験の信頼できる結果は、分析物が試薬と反応した、より暗い領域として視覚的に認知される。始めに、本発明は試験結果を決定するのに必要な光を較正する(124)。デジタル画像がアナログ画像から人手され(118)、本発明によって処理される(102)。本発明は関心領域を自動的に探知し、分析物の場所に対応する最大光学的濃度もしくは色濃度の領域を計算する。背景濃度の読みを与えるために、反応場所から離れた第2の領域が使用される。背景濃度は所定の数学的関数に従って分析物の濃度測定値を調整し、試験の定量的結果を発生するのに使用される(122)。
Claim (excerpt)：
(A)サブストレートの少なくとも一部を分析物が覆わないように上記サブストレート上に上記分析物を沈積させる段階と、 (B)上記サブストレートを光に露出させる段階と、 (C)上記分析物及びサブストレートによって反射された光から、上記露出されたサブストレートの、少なくとも二次元を有するデジタル画像を取得する段階と、 (D)データ処理装置を使用して、 (D1)上記デジタル画像を自動的に走査し、上記サブストレート上の上記分析物の光学的に最も濃い部分を探知し、そして上記最も濃い部分の濃度の第1の測定値を生成し、 (D2)上記分析物によって覆われていない上記サブストレートの部分を探知し、そして上記サブストレートの上記覆われていない部分の濃度の第2の測定値を生成し、そして (D3)所定の数学的関数に従い、上記第2の測定値を使用して上記第1の測定値を調整することによって、出力信号を生成する段階を備えていることを特徴とする分析物を分析する方法。
IPC (3)：
G01N 21/82
, G01N 21/27
, G06T 1/00
Cited by examiner (7)
Show all
Return to Previous Page
