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J-GLOBAL ID：200903030293199142
粒子解析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993261572
Publication number (International publication number)：1995092076
Application date： Sep. 24, 1993
Publication date： Apr. 07, 1995
Summary：
【要約】【目的】 被検粒子の自家蛍光を測定し、精度の良い詳細な解析を行う。【構成】 フローセル1の中心にはフロー部2が形成され、被検粒子Sは上から下に流れる。フローセル1の側方には、第1の光ビームB1を発生する第1の光ビーム発生光源3が配置され、フローセル1の出射方向には第1の光検出器8が配置されている。この下方には、第1の検出器8で得られた被検粒子の検出後に所定の遅延時間を経て光ビームB2を発生する第2の光ビーム発生光源9が配置され、フローセルの出射方向には第2の光検出器13が配置されている。第2の光ビームB2はパルス状とし、第2の光検出器13は被検粒子から発生する散乱光、自家蛍光のうち、自家蛍光のみを検出する。
Claim (excerpt)：
分離されて1個ずつ順次に流れる被検粒子の通過を検出する第1の検出手段と、該第1の検出手段の位置よりも下流位置で前記第1の検出手段からの出力を基に被検粒子の通過に合わせて被検粒子を照射するためのパルス状の光ビームを発生する光ビーム発生手段と、前記パルス状の光ビームの照射により被検粒子から発生する蛍光光量を検出する第2の検出手段と、前記蛍光光量を時間の関数として記録する記録手段とを有することを特徴とする粒子解析装置。
IPC (2)：
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