組織マッピングシステムと方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：浅村皓 , 浅村肇 , 清水邦明 , 林鉐三
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2004556714
Publication number (International publication number)：2006508732
Application date： Dec. 05, 2003
Publication date： Mar. 16, 2006
Summary：

調査中の組織の表面にあてがうための試験電極10の二次元アレイと各試験電極の下にある組織の電気的特性を測定するための回路手段50〜66とを含む組織マッピングシステム。一実施例における電気的特性は、各試験電極の下にある組織のインピーダンスである。

Claim (excerpt)：

調査中の組織の表面にあてがう一組の試験電極と、各試験電極の下にある前記組織の電気的特性を測定するための回路手段とを含む組織マッピングシステム。

IPC (3)：

A61B 5/05 , A61B 5/047 , A61B 5/040

FI (2)：

A61B5/05 B , A61B5/04 300M

F-Term (7)：

4C027AA06 , 4C027DD05 , 4C027EE01 , 4C027EE03 , 4C027HH13 , 4C027KK03 , 4C027KK05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

インピーダンス・イメージング・デバイス及びマルチ-エレメント・プローブ
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-513870 Applicant：トランススキャン・リサーチ・アンド・ディベロプメント・カンパニー・リミテッド, アンドリュー・エル・パールマン

Cited by examiner (1)

インピーダンス・イメージング・デバイス及びマルチ-エレメント・プローブ
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-513870 Applicant：トランススキャン・リサーチ・アンド・ディベロプメント・カンパニー・リミテッド, アンドリュー・エル・パールマン

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

Correlation of impedance response patterns to histological findings in irritant skin reactions induc

Cited by examiner (1)

Correlation of impedance response patterns to histological findings in irritant skin reactions induc

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