Pat
J-GLOBAL ID:200903030327316607

組織マッピングシステムと方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 浅村 皓 ,  浅村 肇 ,  清水 邦明 ,  林 鉐三
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2004556714
Publication number (International publication number):2006508732
Application date: Dec. 05, 2003
Publication date: Mar. 16, 2006
Summary:
調査中の組織の表面にあてがうための試験電極10の二次元アレイと各試験電極の下にある組織の電気的特性を測定するための回路手段50〜66とを含む組織マッピングシステム。一実施例における電気的特性は、各試験電極の下にある組織のインピーダンスである。
Claim (excerpt):
調査中の組織の表面にあてがう一組の試験電極と、各試験電極の下にある前記組織の電気的特性を測定するための回路手段とを含む組織マッピングシステム。
IPC (3):
A61B 5/05 ,  A61B 5/047 ,  A61B 5/040
FI (2):
A61B5/05 B ,  A61B5/04 300M
F-Term (7):
4C027AA06 ,  4C027DD05 ,  4C027EE01 ,  4C027EE03 ,  4C027HH13 ,  4C027KK03 ,  4C027KK05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • Correlation of impedance response patterns to histological findings in irritant skin reactions induc

Return to Previous Page