Pat
J-GLOBAL ID:200903030381343695
計測システム及び計測ユニット
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
高橋 英生
, 浅見 保男
, 武山 吉孝
, 鈴木 隆盛
, 祖父江 栄一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006191129
Publication number (International publication number):2008021055
Application date: Jul. 12, 2006
Publication date: Jan. 31, 2008
Summary:
【課題】多チャンネルの計測システムにおける配線量を少なくする。【解決手段】制御装置1の合成器22は、トリガ信号等の同期信号が入力されるラッチ回路21の出力に基づいて、サンプリングクロックと同期信号を多重化した同期クロック信号を生成する。計測ユニット2の分配器23は前記同期クロック信号を受信し、サンプリングクロックと同期信号に分離する。分離されたサンプリングクロックは複数のA/D変換器25に供給され、センサ群6に含まれる複数のセンサからの計測信号が同期してA/D変換される。分離された同期信号は計測の開始/終了やデータ収集のトリガに使用される。計測ユニットを計測ポイントの近傍に配置することにより、センサ群と計測ユニット間の配線長を短くすることができる。また、同期クロック信号を送信することで制御装置と計測ユニット間の配線の本数を少なくすることができる。【選択図】図2
Claim (excerpt):
複数のセンサからの計測信号をA/D変換する計測ユニットと、前記計測ユニットに接続された制御装置とを有する計測システムであって、
前記制御装置は、サンプリングクロックと前記計測ユニットの動作を制御する同期信号とを多重化した同期クロック信号を生成する手段と、該同期クロック信号を前記計測ユニットに送信する手段とを有し、
前記計測ユニットは、前記同期クロック信号を受信して前記サンプリングクロックと前記同期信号に分離する手段と、前記サンプリングクロックと前記同期信号に基づいて前記複数のセンサからの計測信号をA/D変換する複数のA/D変換器と、前記同期信号に応じた制御を行う手段とを有する
ことを特徴とする計測システム。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (24):
2F073AA01
, 2F073AA21
, 2F073AB01
, 2F073AB02
, 2F073AB03
, 2F073AB07
, 2F073BB05
, 2F073BC01
, 2F073CC01
, 2F073CC07
, 2F073CC10
, 2F073CC14
, 2F073CD01
, 2F073CD14
, 2F073CD15
, 2F073CD24
, 2F073DD02
, 2F073DE00
, 2F073EE00
, 2F073EF00
, 2F073FF00
, 2F073FG04
, 2F073GG01
, 2F073GG07
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
-
特開昭57-93498号公報
-
特公昭50-008151
-
特開昭50-110729
-
制御・監視信号伝送システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-341835
Applicant:株式会社ハーモリンク
-
光学式変位計のデータ伝送方法及び光学式変位計
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-228662
Applicant:株式会社キーエンス
Show all
Cited by examiner (2)
-
特公昭50-008151
-
特開昭50-110729
Return to Previous Page