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J-GLOBAL ID：200903030419003214

超音波診断装置

Inventor： 渡辺 良信 ,  加藤 幸一 ,  朝山 啓二朗
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992314808
Publication number (International publication number)：1994154222
Application date： Nov. 25, 1992
Publication date： Jun. 03, 1994
Summary：

【要約】【目的】 各画像の処理及び信号遅延などの処理時間を制御して複雑な制御処理を不要にし、装置規模を縮小し、かつ、コスト低減を図る。【構成】 超音波探触子1、信号処理部2、A/D変換器3,6,9、識別情報付加部4,7,10、ドップラ検波部5、カラー検波部8、信号処理部11,19、画像処理部12、画像記憶部13,15,17、FFT処理部14、カラー処理部16、表示画像読み出し部18、観測用モニタ20を有する。超音波断層像の画像情報を処理するための制御情報、信号遅延などの時間情報の識別情報を生成する。画像情報と識別情報とを合成した識別情報付き画像データを送出する。識別情報付き画像データにおける画像情報と識別情報とを識別する。この識別結果に基づいて画像情報を処理する。

Claim (excerpt)：

超音波断層像の画像情報に少なくとも制御情報、時間情報の識別情報を重畳した識別情報付き画像データを送出する識別情報付加手段と、上記識別情報付加手段からの識別情報付き画像データにおける識別情報を認識するための識別情報認識手段とを備えることを特徴とした超音波診断装置。

IPC (2)：

A61B 8/00 ,  G01N 29/06