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J-GLOBAL ID：200903030542864046
自動測量システム
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野田 茂
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992193134
Publication number (International publication number)：1994011346
Application date： Jun. 25, 1992
Publication date： Jan. 21, 1994
Summary：
【要約】【目的】 測量対象を素早く確実に視準することができる自動測量システムを提供する。【構成】 測量対象に赤色ターゲットを設置し、CCDカメラ6を備える光波測距計5を、モータの駆動により指向方向を変位させることができる支持台2に支持させ、CCDカメラ6により撮影された画像を画像処理装置7で画像処理して赤色ターゲットの位置を検出し、検出された赤色ターゲットの位置に光波測距計5が指向するように、ホストコンピュータ8及びモータドライバ4が支持台2のモータを制御して、該支持台2の指向方向を変位させるようにした。
Claim (excerpt)：
測量機器を自動的に測量対象へ指向させるためのシステムであって、前記測量対象箇所に設置されるターゲットと、前記測量機器を指向方向変位可能に支持する支持台と、前記支持台を3次元方向に変位させる駆動手段と、前記測量機器に設けられたテレビカメラと、前記テレビカメラにより撮影された画像を画像処理して前記ターゲットの位置を検出する画像処理手段と、前記検出されたターゲットの位置に前記測量機器が指向するように前記駆動手段を制御して前記支持台を変位させる制御手段と、を備えたことを特徴とする自動測量システム。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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