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J-GLOBAL ID:200903030570106955

画像正規化装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 二瓶 正敬
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999070056
Publication number (International publication number):2000268172
Application date: Mar. 16, 1999
Publication date: Sep. 29, 2000
Summary:
【要約】【課題】 照明条件の変化による陰影の変化を補正して画像を正規化する。【解決手段】 アフィン変換された顔画像を矩形領域に分割した各出力領域を設定領域を広げて計算領域として出力する画像分割部140、計算領域に対しシェーディング除去を行うシェーディング除去部150、同一照明条件下での各画像に対しシェーディング除去された各計算領域毎の分散の平均値、シェーディングパラメータの平均値、基準平均値をあらかじめ記憶する基準分散値データ部160、基準シェーディングパラメータデータ部180、基準平均値データ部200、シェーディング除去された計算領域に対し輝度の分散があらかじめ記憶された分散となるよう補正する分散補正部170、シェーディング補正するシェーディング補正部190、シェーディング補正された計算領域に対し輝度の平均値が基準平均値となるよう補正する平均値補正部210を備えた。
Claim (excerpt):
顔画像を含む画像を入力する画像入力手段と、前記画像入力手段により入力された画像から標準的な顔画像とのテンプレートマッチングにより顔領域を抽出する顔領域抽出手段と、前記顔領域抽出手段で抽出された顔領域から目、口の位置を検出する目、口検出手段と、前記目、口検出手段で検出された目、口の位置をあらかじめ設定した位置に来るようにアフィン変換を行うアフィン変換手段と、前記アフィン変換手段から出力される顔画像を矩形領域に分割した各出力領域を設定領域を広げて計算領域として出力する画像分割手段と、前記画像分割手段で設定された計算領域に対してシェーディングの除去を行い各画素の輝度値を求めて出力するシェーディング除去手段と、同一照明条件下での各画像に対してシェーディング除去された各計算領域毎の分散の平均値を求めてあらかじめ記憶している基準分散値データ記憶手段と、前記シェーディング除去手段によりシェーディング除去された計算領域に対して輝度の分散を求めて前記基準分散値データ記憶手段に記憶された対応する領域の分散となるように各画素の輝度値を演算して新たな輝度値として出力する分散補正手段と、前記基準分散値データ記憶部で用いた同じ画像に対して各画像毎に各計算領域でのシェーディングパラメータを求め対応する各計算領域毎のシェーディングパラメータの平均値を求めてあらかじめ記憶している基準シェーディングパラメータデータ記憶手段と、前記分散補正手段により所定の分散となるように補正処理された計算領域に対して、前記基準シェーディングパラメータデータ記憶手段に記憶された対応する計算領域のシェーディングパラメータに基づいてシェーディングの付加を行い新たな輝度値を出力するシェーディング補正手段と、前記基準分散値データ記憶手段で用いた同じ画像に対して各画像毎に各計算領域での平均値を求め対応する各計算領域毎の平均値を求めてあらかじめ記憶している基準平均値データ記憶手段と、前記シェーディング補正手段によりシェーディング補正された計算領域に対して輝度の平均値を求めて前記基準平均値データ記憶手段に記憶された対応する領域の平均値となるように各画素の新たな輝度値を求めて計算領域中の出力領域を用いて顔画像を再構成して出力する平均値補正手段とを、有する画像正規化装置。
IPC (3):
G06T 7/00 ,  G06T 1/00 ,  H04N 1/387
FI (3):
G06F 15/62 465 K ,  H04N 1/387 ,  G06F 15/64 400 D
F-Term (18):
5B043AA09 ,  5B043BA04 ,  5B043CA10 ,  5B043EA12 ,  5B043EA13 ,  5B043EA15 ,  5B043FA03 ,  5B043GA05 ,  5B047AA23 ,  5B047AB04 ,  5B047DA04 ,  5B047DC09 ,  5B047DC20 ,  5C076AA01 ,  5C076AA17 ,  5C076AA36 ,  5C076BA06 ,  5C076CA10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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