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J-GLOBAL ID:200903030595530425
ポジ型レジスト組成物及び該ポジ型レジスト組成物を用いたパターン形成方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
高松 猛
, 矢澤 清純
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007178474
Publication number (International publication number):2008209889
Application date: Jul. 06, 2007
Publication date: Sep. 11, 2008
Summary:
【課題】通常露光(ドライ露光)のみならず液浸露光においても、パターン倒れ、パターン形状が良好であり、且つ、二重露光において、パターン解像性、パターン形状が良好である、ポジ型レジスト組成物及び該ポジ型レジスト組成物を用いたパターン形成方法を提供する。【解決手段】(A)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物、(B)酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂及び(C)酸の作用により分解し、酸を発生する化合物を含有するポジ型レジスト組成物及び該ポジ型レジスト組成物を用いたパターン形成方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
(A)活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物、
(B)酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解度が増大する樹脂及び
(C)酸の作用により分解し、酸を発生する化合物
を含有することを特徴とするポジ型レジスト組成物。
IPC (4):
G03F 7/039
, G03F 7/11
, G03F 7/38
, H01L 21/027
FI (4):
G03F7/039 601
, G03F7/11 501
, G03F7/38 511
, H01L21/30 502R
F-Term (27):
2H025AA02
, 2H025AA03
, 2H025AB03
, 2H025AB14
, 2H025AB16
, 2H025AB17
, 2H025AC04
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE07
, 2H025BF02
, 2H025BG00
, 2H025CB14
, 2H025CB16
, 2H025CC04
, 2H025CC20
, 2H025DA03
, 2H025DA34
, 2H025FA17
, 2H096AA25
, 2H096AA27
, 2H096AA28
, 2H096BA11
, 2H096CA06
, 2H096EA05
, 2H096EA12
, 2H096GA09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (11)
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化学増幅型ポジ型レジスト組成物及び(メタ)アクリル酸誘導体とその製法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-050664
Applicant:住友化学株式会社
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国際公開WO2004-068242号パンフレット
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レジストパタン形成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-175821
Applicant:学校法人東京電機大学
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平版印刷版材料
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Application number:特願平9-261914
Applicant:コニカ株式会社
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アセト酢酸誘導体、その製法及び用途
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-332814
Applicant:住友化学工業株式会社
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高分子化合物、レジスト材料及びパターン形成方法
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Application number:特願2005-155343
Applicant:信越化学工業株式会社, 松下電器産業株式会社, セントラル硝子株式会社
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