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J-GLOBAL ID：200903030605786296

質量分析計

Inventor： 高田 安章 ,  平林 集 ,  坂入 実 ,  神原 秀記
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992054768
Publication number (International publication number)：1993256837
Application date： Mar. 13, 1992
Publication date： Oct. 08, 1993
Summary：

【要約】【目的】噴霧により生成した微小液滴を効果的に気化し、イオンを効率的に抽出できる噴霧イオン源を備えた液体クロマトグラフ・質量分析計を提供する。【構成】試料溶液を噴霧するための細管11とイオンを高真空部に取り込むための細孔15との間に赤外線ヒータ21を設け、液滴に赤外線を照射する。赤外線により溶媒分子が加熱され、液滴の気化が促進される。【効果】噴霧により生成した微小液滴を効果的に気化できるようになり、液滴からイオンを抽出しやすくなり、液体クロマトグラフ・質量分析計の感度が向上する。

Claim (excerpt)：

液体クロマトグラフからの溶出液を細管の一端に導入し、大気圧下で前記細管の他の端から試料溶液を噴霧しイオンを生成させる噴霧イオン源と、前記噴霧イオンを高真空中へ導入する細孔と、イオンを質量分析するための質量分析部とからなる質量分析計において、噴霧により生成した微小液滴に赤外線あるいはマイクロ波を照射し、この微小液滴の気化を容易にすることを特徴とする質量分析計。

IPC (3)：

G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/10

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-147453
  
• 特開昭56-126241