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J-GLOBAL ID：200903030610662325

信号処理装置

Inventor：
宝珠山 秀雄

About 宝珠山 秀雄


Applicant, Patent owner：
株式会社ニコン

About 株式会社ニコン


Agent (1)： 古谷 史旺
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001288978
Publication number (International publication number)：2003101803
Application date： Sep. 21, 2001
Publication date： Apr. 04, 2003
Summary：
【要約】【課題】 回路規模を大幅に増大させることなく、確実に高い色再現性を画素信号に付与することのできる信号処理装置を提供する。【解決手段】 入力されたカラー画素信号に対し変換マトリクスを乗算して色変換処理を施す色変換部と、画素信号が入力される毎に変換マトリクスの係数群をその画素信号に適した最適係数群に設定する係数最適化部とが備えられ、係数最適化部には、入力された画素信号の色を識別する識別手段と、互いに異なる色の複数の基準信号についての最適係数群を予め格納する格納手段と、識別の結果に応じて、格納手段から、画素信号に近い色の2つの基準信号についての最適係数群を取得すると共に、画素信号と2つの基準信号との間の色関係と、取得された2つの最適係数群とに基づいて、補間演算を行うことにより画素信号に適した最適係数群を算出する補間手段とが備えられる。
Claim (excerpt)：
入力されたカラー画素信号に対し変換マトリクスを乗算して色変換処理を施す色変換部と、前記画素信号が入力される毎に、前記変換マトリクスの係数群を、その画素信号に適した最適係数群に設定する係数最適化部とを備え、前記係数最適化部には、前記入力された画素信号の色を識別する識別手段と、互いに異なる色の複数の基準信号についての最適係数群を予め格納する格納手段と、前記識別の結果に応じて、前記格納手段から、前記画素信号に近い色の2つの基準信号についての最適係数群を取得すると共に、前記画素信号と前記2つの基準信号との間の色関係と、前記取得された2つの最適係数群とに基づいて、補間演算を行うことにより、前記画素信号に適した最適係数群を算出する補間手段とが備えられることを特徴とする信号処理装置。
IPC (6)：
H04N 1/60 ,  G06T 1/00 510 ,  H04N 1/46 ,  H04N 9/07 ,  H04N 9/64 ,  H04N 9/67
FI (6)：
G06T 1/00 510 ,  H04N 9/07 C ,  H04N 9/64 R ,  H04N 9/67 D ,  H04N 1/40 D ,  H04N 1/46 Z
F-Term (58)：
5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE11 ,  5B057CE17 ,  5B057CH08 ,  5C065AA01 ,  5C065AA03 ,  5C065BB14 ,  5C065CC01 ,  5C065CC09 ,  5C065DD02 ,  5C065GG26 ,  5C065HH02 ,  5C066AA01 ,  5C066BA20 ,  5C066CA00 ,  5C066CA07 ,  5C066CA08 ,  5C066CA17 ,  5C066EC01 ,  5C066EE01 ,  5C066EE04 ,  5C066EF02 ,  5C066GA01 ,  5C066GA02 ,  5C066GA05 ,  5C066GA11 ,  5C066KD06 ,  5C066KE04 ,  5C066KE07 ,  5C066KM01 ,  5C066KP05 ,  5C077LL19 ,  5C077MP08 ,  5C077PP15 ,  5C077PP32 ,  5C077PP34 ,  5C077PP37 ,  5C077PQ12 ,  5C077PQ23 ,  5C077SS01 ,  5C077TT09 ,  5C079HB01 ,  5C079HB04 ,  5C079HB11 ,  5C079LB01 ,  5C079LB04 ,  5C079MA04 ,  5C079MA11 ,  5C079NA03
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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