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J-GLOBAL ID：200903030624135492
電流-電圧変換アンプのテスト回路
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高田 守 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994268926
Publication number (International publication number)：1996129046
Application date： Nov. 01, 1994
Publication date： May. 21, 1996
Summary：
【要約】【目的】 ICのチップ上にフォトダイオードと対になった電流-電圧変換アンプのテスト回路を設け、実際に光照射を行うことなく、電流-電圧変換アンプのテストを行う。【構成】 本発明は第1のNPNトランジスタと第2のNPNトランジスタからなるカレントミラー回路と、テスト電圧を印加するテスト端子とそのテスト端子と第1のNPNトランジスタのコレクタ間に接続された第3の抵抗と、第2のNPNトランジスタのコレクタに接続される電流端子とを有し、テスト端子に印加されるテスト電圧に応じて電流端子に接続された電流-電圧変換アンプから電流を引き込む。
Claim (excerpt)：
第1のNPNトランジスタと第2のNPNトランジスタからなるカレントミラー回路と、テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第1のNPNトランジスタのコレクタ間に接続された第3の抵抗と、第2のNPNトランジスタのコレクタに接続される電流端子とを有し、前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の電流端子に接続された被測定回路から電流を引き込むことを特徴とする電流-電圧変換アンプのテスト回路。
IPC (2)：
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