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J-GLOBAL ID：200903030756145209

テラヘルツ分光光度計

Inventor： 伊藤 弘昌 ,  菅原 郷史 ,  陳 キュウ
Applicant, Patent owner： 伊藤 弘昌
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999135199
Publication number (International publication number)：2000321134
Application date： May. 17, 1999
Publication date： Nov. 24, 2000
Summary：

【要約】【課題】 強いスペクトル強度をもつ波長可変テラヘルツ波光源と、二光束干渉を用いたマーチン-パプレット型フーリエ干渉計を組み合わせることにより、THz領域での分光を、S/N良く測定できる分光光度計を提供する。【解決手段】 非線形結晶LiNbO33をNd:YAGレーザー1で励起することにより発生したTHz波をSiプリズム2を用い空間に放射し軸外し放物面鏡9によりコリメートするTPG光源と、このTHz波をビームスプリッター4により二光束に分割した後、固定鏡M16と可動鏡M27により再び重ねられ干渉させるMP型干渉計、また分光の為の資料が充填されたガスセル10やTHz波を検出する為の4K-Siボロメータ11等、これらを具備したテラヘルツ分光計15を構成した。

Claim (excerpt)：

非線形光学効果であるパラメトリック発生(PG)により得られる波長可変テラヘルツ波(以下テラヘルツパラメトリック発生:TPGと省略)を光源として用いることを特徴とする分光計。

IPC (3)：

G01J 3/10 ,  G01J 3/26 ,  G02F 1/39

FI (3)：

G01J 3/10 ,  G01J 3/26 ,  G02F 1/39

F-Term (18)：

2G020AA02 ,  2G020CA12 ,  2G020CB05 ,  2G020CB14 ,  2G020CB23 ,  2G020CB27 ,  2G020CB46 ,  2G020CC22 ,  2G020CC54 ,  2G020CD04 ,  2G020CD16 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G020CD52 ,  2K002AA04 ,  2K002AB12 ,  2K002CA03 ,  2K002HA21