プリント基板の配線パターン観察方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山川雅男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995025110
Publication number (International publication number)：1996222832
Application date： Feb. 14, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：

【要約】【目的】プリント基板の配線パターン観察方法に関し、簡便な方法で、かつ、正確に内層パターンを含めた配線パターンを観察することを目的とする。【構成】リント基板1表面に対して斜め方向から赤外波長域の照射光2を照射し、プリント基板1上方への反射光によりプリント基板1の配線パターン3を観察する。

Claim (excerpt)：

プリント基板表面に対して斜め方向から赤外波長域の照射光を照射し、プリント基板1上方への反射光によりプリント基板の配線パターンを観察するプリント基板の配線パターン観察方法。

IPC (4)：

H05K 3/00 , G01B 11/00 , G01N 21/88 , H05K 3/22

FI (4)：

H05K 3/00 Q , G01B 11/00 Z , G01N 21/88 F , H05K 3/22 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平4-194736
特開平4-083152
コンピュータ制御による多重角照射システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-052820 Applicant：インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション

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