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J-GLOBAL ID:200903030789772098

測定データ管理方法及び測定データ管理装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 土井 健二 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001134138
Publication number (International publication number):2002329281
Application date: May. 01, 2001
Publication date: Nov. 15, 2002
Summary:
【要約】【課題】測定データと測定中のイベントとを容易に関連づけることができる測定データ管理方法を提供する。【解決手段】測定機器による測定期間中に、なんらかの事象(イベント)発生ごとに、その発生時間をコンピュータ装置に記録し、測定終了後に、コンピュータ装置により、その記録された時間情報と測定データとを関連付ける。これにより、測定期間中に発生したイベントと、測定データとの関連付けが容易となり、測定データの分析も容易となる。
Claim (excerpt):
測定機器により測定された測定データを管理する測定データ管理方法において、測定期間中における少なくとも一つの事象の発生時間を含む時間情報を記録するステップと、測定終了後に、前記測定機器から前記測定データを抽出するステップと、前記時間情報と前記測定データとを関連づけた合成データを生成するステップとを備えることを特徴とする測定データ管理方法。
IPC (3):
G08C 19/00 ,  G01D 9/00 ,  G01K 1/02
FI (3):
G08C 19/00 H ,  G01D 9/00 A ,  G01K 1/02 R
F-Term (24):
2F070CC06 ,  2F070CC11 ,  2F070FF04 ,  2F070FF13 ,  2F070GG07 ,  2F070HH08 ,  2F073AA23 ,  2F073AB01 ,  2F073BB20 ,  2F073BC01 ,  2F073CC03 ,  2F073CC09 ,  2F073CC12 ,  2F073CC20 ,  2F073DD01 ,  2F073DE13 ,  2F073EF09 ,  2F073FG01 ,  2F073FG02 ,  2F073GG01 ,  2F073GG06 ,  2F073GG07 ,  2F073GG08 ,  2F073GG09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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