Pat

J-GLOBAL ID：200903030813101868

硬さ測定装置

Inventor： 内山 昭夫
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996256515
Publication number (International publication number)：1998099330
Application date： Sep. 27, 1996
Publication date： Apr. 21, 1998
Summary：

【要約】【課題】調整作業が容易で且つ出力変化の大きな硬さセンサを提供する。【解決手段】本発明は、対象物に接触させる接触子が機械的に接続された圧電振動子2に励振電極2aとフィードバック電極2bを設け、フィードバック電極2bの出力をコンパレータ5など、二値化手段で受信し、二値化手段の出力を励振電極2aに戻すことにより、圧電振動子2を共振させ、接触子に対象物が接触した時の共振周波数変化、または、励振電極に加えられる信号の振り幅変化を検出することにより、対象物の硬さを求めることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

被測定物に接触される接触子と、当該接触子を含む機械的振動系を帰還ループによる自励発振回路によって共振状態で振動させられる圧電振動子とを備え、前記接触子が前記被測定物と接触したときの共振状態の変化情報に基づいて前記被測定物の硬さを測定する硬さ測定装置において、前記圧電振動子の帰還信号を受けて二値化する二値化手段を有し、当該二値化手段の出力に基づいて前記圧電素子を駆動することを特徴とする硬さ測定装置。

IPC (3)：

A61B 8/00 ,  A61B 1/00 300 ,  G01N 29/16

FI (3)：

A61B 8/00 ,  A61B 1/00 300 D ,  G01N 29/16