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J-GLOBAL ID：200903030836325046

テラヘルツ波を測定するための装置及び方法

Inventor： 片桐 崇史 ,  井辻 健明
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 加藤 一男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008300302
Publication number (International publication number)：2009192524
Application date： Nov. 26, 2008
Publication date： Aug. 27, 2009
Summary：

【課題】時間波形をフーリエ変換しなくても、時間波形から分光情報(各周波数成分の振幅情報、周波数(波長)ごとの強度情報)を得ることのできる、テラヘルツ波を測定するための装置の提供。【解決手段】発生部101から発生したテラヘルツ波104をチャープさせるための分散部103を備える。分散部103によりチャープされたテラヘルツ波の波形情報を検出部102で検出する。これにより、前記波形情報から該波形情報に含まれる周波数に対する情報を取得することができる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

テラヘルツ波を測定するための装置であって、 テラヘルツ波を発生させるための発生部と、 テラヘルツ波の波形情報を検出するための検出部と、 前記発生部から発生したテラヘルツ波をチャープさせるための分散部と、を備え、 前記分散部によりチャープされたテラヘルツ波の波形情報を検出し、 前記波形情報から周波数に対する情報を取得することを特徴とする装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/27

FI (2)：

G01N21/35 Z ,  G01N21/27 A

F-Term (24)：

2G059AA01 ,  2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE05 ,  2G059EE12 ,  2G059EE17 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059KK09 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特許第3387721号
  

Cited by examiner (3)

• 特開平1-176920
  
• 特許第3387721号
  
• 特開平4-230812
  

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• “Terahertz Imaging via Electrooptic Effect”