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J-GLOBAL ID：200903030908035951

屈折率分布測定装置

Inventor： 松崎 弘
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 篠原 泰司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991302911
Publication number (International publication number)：1993142097
Application date： Nov. 19, 1991
Publication date： Jun. 08, 1993
Summary：

【要約】【目的】 屈折率分布型レンズの屈折率分布を測定するのに最適で、同時に屈折率分布の非対称性を測定できる屈折率分布測定装置を提供する。【構成】 測定された位相分布データを位相分布多項式に近似してこのデータを近似成分と近似誤差成分とに分離し、近似成分と近似誤差成分毎に夫々屈折率分布に変換し、その後これらを加算して屈折率分布を求めるようにした屈折率分布測定装置。又、位相分布データを位相分布多項式に近似して算出される近似誤差成分から、屈折率分布の非対称性が測定できるようになっている。

Claim (excerpt)：

干渉可能の二つの光の一方を測定試料に当てて透過させた後他方の光と合成して干渉縞を発生させ、それにより該測定試料の屈折率分布を測定するようにした装置において、測定された位相分布データを位相分布多項式に近似して該位相分布データを近似成分と近似誤差成分とに分離し、上記分離された位相分布データを上記近似成分及び近似誤差成分毎に夫々屈折率分布に変換し、上記屈折率分布に変換された近似成分及び近似誤差成分を加算して屈折率分布を求めるようにしたことを特徴とする屈折率分布測定装置。

IPC (2)：

G01M 11/02 ,  G01N 21/45

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平2-008727
  
• 特開平2-080909
  
• 特開昭63-048406
  
• 特開平1-244306