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J-GLOBAL ID：200903031076827735

電位計の校正方法及び異常検知方法

Inventor： 楠本 茂生 ,  梶原 準一 ,  森本 潤 ,  前原 繁治 ,  諸岡 了
Applicant, Patent owner： シャープ株式会社
Agent (1)： 原 謙三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992008472
Publication number (International publication number)：1993196672
Application date： Jan. 21, 1992
Publication date： Aug. 06, 1993
Summary：

【要約】【構成】 バイアス電圧を値の異なる4段階に切り換えて感光体に印加し、各段階のバイアス電圧印加時の感光体の表面電位VF1〜VF4を電位センサで読み取る。これにより、複数の測定電位における電位計の検出値VS1〜VS4が得られ、上記複数の検出値VS1〜VS4から、感光体の表面電位VF と電位センサの検出値VS との関係を表す変換特性線Lを求める。また、変換特性線Lの情報(傾き、切片)が所定範囲から外れているとき、電位計の異常判定を行う。【効果】 広範囲な電位にわたって精度の高い電位センサの校正が行える。また、例えばどの電位の検出値VS も一定であったり、検出感度が低い等の電位センサの異常を確実に検出でき、電位センサの異常検出精度の向上が図れる。

Claim (excerpt)：

感光体に所定のバイアス電圧を印加したときの電位計の検出値に基づいて、感光体の表面電位と電位計の検出値との関係を表す変換特性線を求める電位計の校正方法において、上記バイアス電圧を値の異なる複数段階に切り換えて感光体に印加し、各段階のバイアス電圧印加時の電位計の検出値から上記の変換特性線を求めることを特徴とする電位計の校正方法。

IPC (5)：

G01R 29/12 ,  B41J 29/46 ,  G01R 5/28 ,  G01R 35/00 ,  G03G 15/00 303