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J-GLOBAL ID：200903031125859451

ICの傾き検出方法

Inventor： 寿 国梁 ,  松本 幸治
Applicant, Patent owner： 株式会社イーゼル ,  シャープ株式会社
Agent (1)： 山本 誠
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992119636
Publication number (International publication number)：1994028473
Application date： Apr. 13, 1992
Publication date： Feb. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】 ICの位置決めのための傾き検出を高速かつ高精度に実行し得るICの傾き検出方法を提供することを目的とする。【構成】 輝度値の高いICのピン部分を膨張、収縮、2値化処理してブロック画像として抽出し、このブロック画像の重心を求め、この重心からICの中心を求めて、このICの中心とブロック画像の重心を結ぶ直線と、カメラ画像のX軸とY軸と比較して傾きをを検出する。

Claim (excerpt)：

ICの傾き検出方法において、IC画像を入力し、この入力画像に所定回数の膨張および収縮処理を施し、この膨張及び収縮処理を施した画像を2値化し、この2値化した画像に所定回数の収縮及び膨張処理を施してラベリングし、このラベリング画像から所定範囲の面積を有する所定数のラベリング画像を抽出し、この抽出した各ラベリング画像の重心を求め、この求めた各々の重心からICの中心と傾斜角を求めることを特徴とするICの傾き検出方法。

IPC (5)：

G06F 15/70 360 ,  G06F 15/70 330 ,  G01B 11/26 ,  G06F 15/62 405 ,  H05K 13/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-276003
  
• 特開昭62-154179
  
• 特開平1-166271