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J-GLOBAL ID:200903031152652710

樹脂封止発光ダイオード装置及び封止方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 矢野 敏雄 ,  山崎 利臣 ,  久野 琢也 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004227410
Publication number (International publication number):2006049533
Application date: Aug. 04, 2004
Publication date: Feb. 16, 2006
Summary:
【課題】シリコーン系材料の透明性、耐光性・耐熱性を保持しながら、急激な温度変化による歪による障害が格段に改良された材料で封止された発光ダイオードを提供する。【解決手段】発光ダイオード素子表面が、軟質の付加硬化型シリコーンで被覆され、更に樹脂状の付加硬化型シリコーンレジンで封止された発光ダイオード装置において、軟質の付加硬化型シリコーンが(A)一分子あたり少なくとも平均1.8個のケイ素原子に結合したアルケニル基を有す粘度が10〜10,000mPa・sのオルガノポリシロキサン、(B)一分子あたり少なくとも平均4個のケイ素原子に結合した水素原子を有し、粘度が10〜10,000mPa・sのオルガノ水素ポリシロキサン、(C)組成物の硬化を促進する触媒量のヒドロシリル化触媒からなる組成物の硬化物であり、硬化後の硬さがタイプEデュロメータで5以上75以下であることを特徴とする発光ダイオード装置。【選択図】なし
Claim (excerpt):
発光ダイオード素子表面が、軟質の付加硬化型シリコーンで被覆され、更に樹脂状の付加硬化型シリコーンレジンで封止された発光ダイオード装置において、軟質の付加硬化型シリコーンが(A)〜(C)からなる組成物の硬化物であり、硬化後の硬さがタイプEデュロメータで5以上75以下であることを特徴とする発光ダイオード装置。 (A)一分子あたり少なくとも平均1.8個のケイ素原子に結合したアルケニル基を有し、25°C、せん断速度0.9s-1における粘度が10mPa・s以上10,000mPa・s以下であるオルガノポリシロキサン、 (B)一分子あたり少なくとも平均4個のケイ素原子に結合した水素原子を有し、25°C、せん断速度0.9s-1における粘度が10mPa・s以上10,000mPa・s以下であるオルガノ水素ポリシロキサン(ただし、(A)成分のアルケニル基の1個に対して0.9〜2個のケイ素原子に結合した水素原子となるような量)、 (C)組成物の硬化を促進する触媒量のヒドロシリル化触媒
IPC (1):
H01L 33/00
FI (1):
H01L33/00 N
F-Term (4):
5F041AA40 ,  5F041AA43 ,  5F041DA45 ,  5F041DA74
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (4)
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