光子検出装置および光子検出方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004132270
Publication number (International publication number)：2005114712
Application date： Apr. 27, 2004
Publication date： Apr. 28, 2005
Summary：

【課題】アバランシェフォトダイオードの充電パルス除去を行わないで、光子検出装置のアフターパルス雑音を簡単、容易に抑圧することができる光子検出装置及び光子検出方法を提供するものである。【解決手段】光子検出装置は、アバランシェフォトダイオードを受光素子とする光子検出手段と、アバランシェフォトダイオードに電圧を印加するバイアスティと、前記バイアスティに直流電圧をバイアス電圧として印加する直流電圧発生器と、前記バイアスティにパルス電圧を印加し光子検出予定時刻でのみ前記検出手段を動作させる電圧パルス発生器と、光子が検出されたか否かを判定する波高弁別器で構成され、前記直流電圧発生器により前記直流電圧を前記アバランシェフォトダイオードの降伏電圧よりも低めに設定し、光子到着予定時刻に前記パルス発生器から発生する狭幅の電圧パルスをバイアスティ経由で重畳し、前記直流電圧と前記電圧パルスからなる和電圧を前記アバランシェフォトダイオードに印加するように構成した。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

アバランシェフォトダイオードを受光素子とする光子検出手段と、アバランシェフォトダイオードに電圧を印加するバイアスティと、前記バイアスティに直流電圧をバイアス電圧として印加する直流電圧発生器と、前記バイアスティにパルス電圧を印加し光子検出予定時刻でのみ前記検出手段を動作させる電圧パルス発生器と、光子が検出されたか否かを判定する波高弁別器で構成され、前記直流電圧発生器により前記直流電圧を前記アバランシェフォトダイオードの降伏電圧よりも低めに設定し、光子到着予定時刻に前記パルス発生器から発生する狭幅の電圧パルスをバイアスティ経由で重畳し、前記直流電圧と前記電圧パルスからなる和電圧を前記アバランシェフォトダイオードに印加するように構成したことを特徴とする光子検出装置。

IPC (2)：

G01J1/42 , H01L31/107

FI (2)：

G01J1/42 H , H01L31/10 B

F-Term (14)：

2G065AA04 , 2G065AB09 , 2G065AB14 , 2G065BA09 , 2G065BC02 , 2G065CA12 , 2G065DA13 , 5F049MA07 , 5F049NA04 , 5F049NB01 , 5F049NB07 , 5F049NB10 , 5F049UA11 , 5F049UA20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

米国特許番号5532474

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

応用物理, 20030210, 第72巻第2号, p.205〜208

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