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J-GLOBAL ID：200903031197341252

鍍金検査装置

Inventor： 桑折 知幸 ,  藤原 孝洋
Applicant, Patent owner： ジャパン・イー・エム株式会社
Agent (1)： 平田 忠雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992026194
Publication number (International publication number)：1993196568
Application date： Jan. 17, 1992
Publication date： Aug. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、高精度の部品を必要とせず、コストダウンが図れることを目的とする。【構成】 本発明の鍍金検査装置は、受光手段に地金の反射率と鍍金の反射率の間に所定の差を有する波長の反射光を受光させる構成を有する。

Claim (excerpt)：

地金に地金の色と相違した色の鍍金を施された試料を照射する照射手段と、前記試料の反射光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光光像に基づいて前記鍍金の位置,或いは面積を判定する判定手段を備え、前記受光手段は前記地金の反射率と前記鍍金の反射率の間に所定の差を有する波長の反射光を受光することを特徴とする鍍金検査装置。

IPC (3)：

G01N 21/55 ,  G01B 11/28 ,  G01N 21/88

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭63-255646
  
• 特公平1-040254
  
• 特開昭57-166547
  
• 特開昭63-017334
  
• 特開平1-273939