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J-GLOBAL ID：200903031201418621

光起電力モジュールの特性検査方法及び装置

Inventor： 都築 幸司 ,  長谷部 明男 ,  吉野 豪人
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 渡辺 敬介 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002115679
Publication number (International publication number)：2003309277
Application date： Apr. 18, 2002
Publication date： Oct. 31, 2003
Summary：

【要約】【課題】 光起電力モジュールの簡便で安価な特性検査方法及び装置を提供する。【解決手段】 光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュール101の受光面上で特性検査用の光の照射領域を前記直列接続の方向に相対的に移動させ、得られた連続する光起電圧特性から良否判定を行うようにしたことを特徴とする光起電力モジュールの特性検査方法及び装置。

Claim (excerpt)：

光起電力素子を複数直列接続して構成した光起電力モジュールの特性検査方法において、特性検査用の光の照射領域を前記光起電力モジュールの少なくとも受光面上で前記直列接続の方向に相対的に移動させ、得られた連続する光起電圧特性から良否判定を行うことを特徴とする光起電力モジュールの特性検査方法。

F-Term (1)：

5F051KA09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭59-020870
  
• 光起電力モジュールの特性検査方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-230962   Applicant：キヤノン株式会社