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J-GLOBAL ID：200903031226034925

アコースティックエミッション計測装置

Inventor： 佐久間 秀一
Applicant, Patent owner： 東洋電機製造株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995243652
Publication number (International publication number)：1997061407
Application date： Aug. 29, 1995
Publication date： Mar. 07, 1997
Summary：

【要約】【課題】AE信号のAE尖頭値が広いレベルで発生すると同時に、AE事象率が大きく変化するようなAE現象を測定する場合においても、AE信号が過不足なく測定できることにある。【解決手段】測定可能な最大AE事象率をあらかじめ調査しておき、このAE最大事象率に対し測定すべきAE事象率の最大値と最小値を設定するとともに、AE測定中はAE事象率を常に測定して、AE事象率が該最大値以上になる場合にはAEしきい値を高くし、該最小値以下になる場合にはAEしきい値を低くするが測定前に設定した初期AEしきい値よりは低くしないものである。

Claim (excerpt)：

アコースティックエミッション計測装置において測定可能な最大アコースティックエミッション事象率をあらかじめ調査しておき、このアコースティックエミッション最大事象率に対し測定すべきアコースティックエミッション事象率の最大値と最小値を設定するとともに、アコースティックエミッション測定中はアコースティックエミッション事象率を常に測定して、アコースティックエミッション事象率が前記最大値以上になる場合にはアコースティックエミッションしきい値を高くし、前記最小値以下になる場合にはアコースティックエミッションしきい値を低くするが測定前に設定した初期アコースティックエミッションしきい値よりは低くしないよう構成したことを特徴とするアコースティックエミッション計測装置。