X線CT装置及びX線CT装置を用いた撮像方法

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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：ポレール特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007278861
Publication number (International publication number)：2009109216
Application date： Oct. 26, 2007
Publication date： May. 21, 2009
Summary：

【課題】半導体放射線検出器の寿命を伸ばすことができるX線CT装置を提供する。【解決手段】X線CT装置1は、内部にCdTe検出器を設けた検出器格納装置6、加熱処理装置18及び検出器移動装置24を有する。ターンテーブル3を回転させ、ターンテーブル3上の被検体に電子線加速器2からのX線ファンビーム44を照射する。被検体を透過したX線がCdTe検出器によって検出される。画像再構成装置34が得られた検出信号に基づいて断層像を再構成する。その後、被検体を回転テーブル3上に置かない状態で、CdTe検出器がX線ファンビーム44を検出する。この検出信号が閾値以下になったとき、検出器格納装置6が検出器移動装置24によって加熱処理装置18まで移動され、検出器格納装置6が加熱処理装置18内に格納される。検出器格納装置6内のCdTe検出器が過熱されてアニール処理される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

X線発生装置と、前記X線発生装置から放出されたX線を通過させるX線通過孔を有するコリメータと、前記X線通過孔を通過した前記X線を検出する半導体放射線検出器と、前記半導体放射線検出器を加熱する加熱装置と、前記X線発生装置からの前記X線の放出が停止された後、前記加熱装置の発熱を制御して、出力が設定出力以下になった前記半導体放射線検出器を加熱する制御装置とを備えたことを特徴とするX線CT装置。

IPC (2)：

G01T 1/24 , G01N 23/04

FI (2)：

G01T1/24 , G01N23/04

F-Term (15)：

2G001AA01 , 2G001BA11 , 2G001CA01 , 2G001DA01 , 2G001DA05 , 2G001HA13 , 2G001HA14 , 2G001JA06 , 2G088EE02 , 2G088FF02 , 2G088GG21 , 2G088JJ02 , 2G088JJ13 , 2G088JJ23 , 2G088KK32

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

半導体に基づくX線検出装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平9-509915 Applicant：コミツサリアタレネルジーアトミーク, ソシエテソフラデイール
X線CT装置及びX線CT装置による検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-083786 Applicant：株式会社日立製作所
X線CT装置,X線CT装置による検出方法,X線センサ信号システム、及びX線センサ信号処理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-184385 Applicant：株式会社日立製作所

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