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J-GLOBAL ID：200903031269908414
導通検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
亀井 弘勝 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998320767
Publication number (International publication number)：2000150102
Application date： Nov. 11, 1998
Publication date： May. 30, 2000
Summary：
【要約】【課題】コネクタハウジング41の側面に設けたリテーナ44によって端子を止定するタイプのコネクタ40に関して、リテーナ44の装着不良の検出の作業性が悪い。リテーナ44等が損傷するおそれがある。【解決手段】リテーナ44がコネクタハウジング41から浮き上がっている場合、検査部14の突出部21がリテーナ44に当接し、検査部14は検査位置DPから所定の後退量L2だけ後退した位置に規定される。コネクタ40の全端子Tに関して導通がとれない状態となり、リテーナ44の装着不良を通常の導通検査の工程の中で作業性良く且つ確実に検出できる。装着不良のリテーナ44を圧縮コイルばね28により弾力的に押すので、リテーナ44が損傷しない。装着不良のリテーナ44を正規に装着して、実質的な不良率を低下させる。
Claim (excerpt)：
コネクタハウジングの両端面に開口する複数の端子挿入孔のそれぞれに一端側から挿入された端子を、コネクタハウジングの側面に設けたリテーナによって端子挿入孔内に止定するコネクタの導通を検査する導通検査装置において、上記コネクタハウジングを受けるコネクタ受け部と、このコネクタ受け部に対向する検査面を有しコネクタ受け部に近接する方向の前後に進退自在な検査部と、この検査部をコネクタ受け部に近接する方向に沿って検査位置に移動させる移動手段と、検査部に保持され、検査部が検査位置に移動した状態で各端子挿入孔の他側から導入され各端子とそれぞれ接触して導通を得る複数の検出子と、検査部の検査面に突出形成され、検査部の検査位置側への移動に伴ってコネクタハウジングの側面に沿って移動する突出部と、上記移動手段と検査部との間に介在し、検査部を検査位置側へ弾力的に押す弾性部材とを備え、上記移動手段が検査部を検査位置側へ移動させるときに、検査部の突出部が装着不良のリテーナに当接することにより、上記弾性部材に抗して検査部が検査位置から所定の後退量だけ後退した位置に規定され、上記検出子と端子との接触が回避されることを特徴とする導通検査装置。
IPC (2)：
FI (2)：
H01R 43/00 Z
, G01R 31/02
2G014AA13
, 2G014AB60
, 2G014AC19
, 5E051GA09
, 5E051GB09
